趣旨:top
このワークショップは、2002年までの14年間に亘り「外観検査の自動化ワークショップ」として日本における「ものづくり」を支える基盤技術である外観検査の自動化の技術、生産技術に関わる画像処理応用技術の発信源として機能してきました。併せて画像処理、マシンビジョンの応用分野は着実に拡大しており、新たな応用分野の発表も見られるようになってきました。このため昨年より、その実に相応しい名称として「ビジョン技術の実利用ワークショップ」、略称をViEW(Vision Engineering Workshop)に変更して開催致しております。
新たなViEWは、画像処理、マシンビジョンの応用分野の着実な拡がりに対応しつつ、マシンビジョン技術の実利用を追及するより多くのみなさまへ発表と意見交換、情報収集の場を提供しようとするものです。
特別講演、パネル討論などでは毎回最新の話題が提供され、議論も活発に行われております。優秀な研究発表に対して、優秀論文賞「画像応用技術専門委員会 小田原賞」を贈呈します。
また、国際画像機器展(連絡先:(株)精機通信社 電話03-3367-0571)と同時開催することによってさらに充実した企画となっており、300名近い参加者に積極的なご指示を頂いております。
多くの研究者、開発技術者の参加を心からお待ち申し上げております。
スコープ:
ワークショップの募集するスコープ(対象分野)を示します。ただし、応募対象はこれに限られるものではありません。
- 外観検査、欠陥検査・分類
- ロボットビジョン、マシンビジョン
- 画像計測(位置、姿勢、サイズ)、計数システム、品質管理用画像応用技術
- 非破壊検査のための画像処理
- 光学的画像処理・計測
- 感性画像計測、クラスタリング、カラー画像情報処理
- 画像パターン認識、認識アルゴリズム、特徴抽出処理、モデル依存型認識
- 3次元画像処理、距離画像認識
- セキュリティ応用、監視、個人識別
- 環境認識、実環境センシングとビジョン
- 映像情報処理、メディア処理
- バイオ、人間応用の外観検査
- 高度情報交通システム、運転状態計測、運転支援ビジョン
- 食品・医薬品産業における画像処理
- 脱NTSCのビジョン技術
- WEBカメラのための画像処理と応用
- ICタグを利用する画像技術
- 画像処理ハードウェア、高速IP
- イメージプロセサ、システムのベンチマーキング、ユーザ意見・議論
開催日: top
2004年 12月2日(木) 、 3日 (金)
会場:top
パシフィコ 横浜 アネックス・ホール
〒220-0012 横浜市西区みなとみらい 1-1-1
同時開催:top
国際画像機器展が 2004年12月 1、 2、 3 日の3日間に、同時開催されます。展示会に関しては下記までお問い合わせください。
事務局: (株) 精機通信社 FAX:03-3368-1519、 PHONE:03-3367-0571
主催:top
精密工学会
共同企画:top
画像応用技術専門委員会(精密工学会)、知能メカトロニクス専門委員会(精密工学会)、マシンビジョンの実環境適用技術調査専門委員会(電気学会)、非整備環境におけるパターン認識応用分野拡大協同研究委員会(電気学会)、パターン計測部会(計測自動制御学会)、画像処理特別研究委員会(日本非破壊検査協会)
協賛:top
電気学会、計測自動制御学会、情報処理学会、日本ロボット学会、電子情報通信学会、回路実装学会、センシング技術応用研究会、日本電気制御機器工業会、精機通信社、映像情報インダストリアル
参加費(講演論文集を含む):top
・講演者、精密工学会会員、協賛組織会員:20,000円
・その他 一般の方:25,000円、 学生の方:5,000円
講演論文集は当日受付にてお渡しします。
申込み:top
期限: 2004年9月3日(金) (申し込み終了)
WEBからの申込み:下の「WEB講演申込み」をクリックしてお申込みください。講演1件につき代表者の方がお送りください。受付け直後に確認のメールを返信しますので、ご確認ください。この確認メールの届かない場合には、お手数ですが、再度事務局にお問合せくださるようお願い致します。
||WEB講演申込み|| (申し込み終了) その他の申込み方法: 講演題目、希望講演形式(口頭、ポスターの別)、概要(100字程度)、講演者氏名(協賛組織会員/非会員/学生の別)、講演者所属、連絡者氏名、連絡者の所属、連絡先住所(郵便が届く内容)、電話、 FAX、 E-MAIL(登録確認などに必要です)の情報を、下の講演申込み書式(電子メール用)にまとめて、電子メールでお送りください。受付け後数日中には確認のメールを返信しますので、ご確認ください。この確認メールの届かない場合には、お手数ですが、再度事務局にお問合せくださるようお願い致します。適当な様式による郵送、FAXでの申込みも可能です。なお、参加申込みもお忘れなくお願い致します。
||講演申込み書式(電子メール用)|| (申し込み終了) 原稿の作成、提出などに関しましては、このホームページの原稿作成のインデックスをごらんください。ワークショップ当日の発表に関しては、発表のインデックスをごらんください。
WEBからの申込み:下の「WEB申込み」をクリックしてお申込みください。参加ご希望の方1名につき1件としてお申込みください。ご氏名、精密工学会・協賛組織の会員・非会員、一般・学生の別、所属、連絡先(郵便が届く内容)、電話、FAX、E-MAIL、参加費の支払い方法(事前振込み、当日払いの別)の情報を記載してください。受付直後に確認のメールを返信しますので、ご確認ください。
また折り返し、参加費の請求書を郵送致します。請求の遅れている場合には、事務局にご一報ください。同封の振込み用紙にてお早めにお振込みください。また、当日受付でのお支払いも可能です。
||WEB参加申込み‖ その他の申込み方法:下の「参加申込み(電子メール用)」に参加ご希望の方1名につき1件として必要事項を記載し、電子メールでお送りください。折り返し、参加登録の確認を兼ねて、参加費の請求書を郵送致します。同封の振込み用紙にて、お早めにお振込みください。また、当日受付でのお支払いも可能です。
適当な様式による郵送、FAXでの申込みも可能です。
||参加申込み書式(電子メール用)|| 単価: 一律 10,000円(郵送費を含む)
申込み先: 下記事務局 ViEW2004係 E-MAIL: gazoh@campuscreate.com
予約購入方法: ご氏名、所属、連絡先住所(郵便が届く内容)、電話、FAX、E-MAIL、論文集代の支払方法(事前振込み、当日払の別)の情報を、この順に、テキストファイルにまとめて、なるべく電子メールでお送りください。郵送、FAXにても申込み可能です。ワークショップ終了後に、講演論文集および請求書を郵送致します。同封の振込み用紙にて、お早めにお振込みください。当日受付でのお支払いも可能ですが、お渡しはワークショップ終了後となります。なお、講演論文集は一定部数を見込んで印刷しており、残部数が不足する場合には、ご購入いただけない場合もありますので、ご了承ください。
原稿提出:top
提出期限: 2004年10月18日(月)
原稿送付先: 一般のご講演、及びパネル討論パネリストの原稿はすべて、下記事務局へ、印刷原稿を郵便にて送付してください。電子メールでのご送付原稿に関しては、保存・印刷の責任を負いかねますので、ご遠慮くださいますようお願い致します。
原稿書式: 次のリンクから書式ファイルをダウンロードしてお使いください。ダウンロードしたファイルはウィルスチェック後にご使用ください。
||MSWord2000書式|LaTeX書式(SJIS版)|| 原稿はすべて白黒印刷されます。カラーページの希望に関しては下記事務局までお問い合わせください。
発表:top
発表形式: 口頭発表、およびポスター発表を予定しております。ポスター発表は口頭発表に比べて、ゆっくりと絞り込んだ議論ができる形式です。比較的小規模のデモンストレーションなども可能ですので、ご利用ください。
発表時間: 口頭発表に関しては、発表 20分、質疑 5分です。ポスター発表に関しては、80分の予定です。これらは応募件数によって、調整されることがありますので、開催が近づきましたら、プログラムのページをご確認ください。ご発表のセッション、座長などの情報も得られます。
使用機器: 口頭発表では、OHP、プロジェクタをお使いになれます。ビデオ(VHS系)をご使用の場合には、発表1時間前には受付けにお渡しください。係がお預かりして、ご発表時に指示に従って映写致します。発表セッション終了後に受付けでビデオをお受け取りください。
ポスター発表では、パネル(高さ2,100mm×幅900mm)2枚(但し、手前に高さ約70cmの机を置きます)、机、電源(<1kW)をお使いになれます。ビデオ(VHS系)など他の機器をご使用の場合には事前に事務局までお知らせください。使用言語: 原則として、日本語または英語による発表をお願い致します。
申し込み・問合せ先(事務局):top
画像応用技術専門委員会事務局 ViEW2004係
〒182-0026 調布市小島町1-11-6エンケ102 (株)キャンパスクリエイト内
TEL & FAX: 0424-41-1809
E-MAIL: gazoh@campuscreate.com(講演申込み、参加申込みを受付けます)
ホームページ:http://www.tc-iaip.org/
実行委員会:top
委員長: 中川泰夫(日立) 幹 事: 青木義満(芝浦工大) 委 員: 石原満宏(高岳製作所)、恩田寿和(明電舎)、柏木利幸(徳島工技センター)、 佐藤雄隆(産総研)、劉偉(ファースト)、塚田弘志(東芝)、内藤貴志(豊田中研)、 野口稔(日立ハイテクノロジーズ)
プログラム委員会:top
委員長: 坂上勝彦(産総研)
幹 事: 数井誠人(日立)
委 員: 石井抱(広島大)、大城英裕(大分大)、斎藤英雄(慶應大)、高橋悟(香川大)、
冨永将史(ソフトピアジャパン)、長田典子(関西学大)、中村奈津子(日本電子)、
横井昭彦(ITエンジニアリング)、ラシキア・ジョージ(中京大)
アドバイザリーボード:top
高木幹雄(芝浦工大)、斎藤之男(東京電機大)、石井 明(立命館大)、
岡 昌世(元池上通信機)、秦清治(香川大)、原靖彦(日大)、
輿水大和(中京大)、金子俊一(北大)
組織委員会:top
委員長: 角田興俊(日本IBM) 委 員: 山本和彦(岐阜大)、牛田善喜(隆祥産業)、佐藤宏介(大阪大)、石井明(香川大)、 浅野敏郎(広島工大)、安藤護俊(富士通)、伊藤裕(東京電機大)、梅田和昇(中央大)、 大塚裕史(日立)、梶谷誠(信州大)、加藤章(中部大)、加藤純一(理研)、金子透(静岡大)、 楜澤信(旭硝子)、駒野目裕久(池上通信機)、斉藤文彦(岐阜大)、渋谷久恵(日立)、 下条誠(電通大)、白川弘明(福岡工大)、菅泰雄(慶應大)、田口亮(武蔵工大)、 西川喜八郎(西川技術士事務所)、橋本学(三菱電機)、橋本稔(信州大)、 前田祐司(広島保福大)、水垣善夫(九工大)、村上俊之(慶應大)
精密工学会 画像応用技術専門委員会 小田原賞:top
ビジョン技術の実利用ワークショップでは、本活動の創始グループの一人である、故小田原豪太郎先生(東大)の功績を称えて、最優秀論文に対して「画像応用技術専門委員会 小田原賞」を授与しております。これは参加者による一般投票及び共同企画代表者による厳正な審議に基づいて行われます。これまで下記に列記する方々が受賞されています。
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第1回 | 平成7年 第7回 |
赤外画像と可視画像を用いた非接触皮膚温計測装置の開発 | 西条淳夫、吉田博明、鈴木龍司、大隅正人、塚本一義 | 三洋電機(株)メカトロニクス研究所 |
第2回 | 平成8年 第8回 |
溶接ビ−ド表面外観検査 | 久保克己、相川徹郎、浅井 知、金子忠昭 | (株)東芝 |
第3回 | 平成9年 第9回 |
動画像追跡処理法を用いた塗装外観検査装置の開発 | 吉田 清、今西正則、鈴木 裕、渡辺正実 | 日産自動車(株) |
第4回 | 平成10年 第10回 |
点群の群化要因に基づくGAを用いたLCD輝度むら検出 | 斉藤文彦 | 岩手県立大学 |
第5回 | 平成11年 第11回 |
OPCドラム外観検査装置 | 重山吉偉、中村淳良、上田泰広 | シャ−プ(株) |
第6回 | 平成12年 第12回 |
ボ−リング孔壁のステレオ画像計測法 | 小杉 亨*、亀和田俊一*、金子俊一** | *:(株)レアックス **:北海道大学 |
第7回 | 平成13年 第13回 |
欠陥点サンプリング技術を利用した外観検査手法 | 高木裕治、渋谷久恵、細谷直樹 | (株)日立製作所 生産技術研究所 |
第8回 | 平成14年 第14回 |
量子化定理の提案 −画像グレースケール離散化の数理的考察− | 輿水大和*、本田和広**、中村奈津子** | *:中京大 **:日本電子(株) |
第9回 | 平成15年 ViEW2003 |
白色干渉法による透明膜の三次元形状計測 | 北川克一 | 東レエンジニアリング(株) |
プログラム:top
講演会場:top
講演会場はパシフィコ横浜アネックスホールの F201+F202 会議ホールです。多くの参加者の皆さんを迎えるために、詰めて着席くださいますようお願い致します。また、定員を超過する場合には、入場を制限させていただくこともあります。ご了承ください。
懇親会のご案内:top
懇親会は参加費無料となっております。
日 時: 2004年12月2日 18:00-19:30
場 所: ハーバーラウンジA (講演会場と同じフロアで、アネックスホールの海側です)会場などの都合により、定員 120名とさせていただきます。満員の場合にはご参加いただけないこともありますので、ご了承ください。
以上