年号 | WS |
受賞論文 |
受賞者 |
平成 7年 | 第 7回 |
赤外線画像と可視画像を用いた非接触皮膚温計測装置の開発 |
西条淳夫,吉田博明,鈴木龍司,大隅正人,塚本一義(三洋電機) |
平成 8年 | 第 8回 |
溶接ビード表面外観検査 |
久保克己,相川徹郎,浅井知,金子忠昭(東芝) |
平成 9年 | 第 9回 |
動画像追跡処理法を用いた塗装外観検査装置の開発 |
吉田清,今西正則,鈴木裕,渡辺正実(日産自動車) |
平成10年 | 第10回 |
点群の群化要因に基づくGAを用いたLCD輝度むら検出 |
斉藤文彦(岩手県立大) |
平成11年 | 第11回 |
OPCドラム外観検査装置 |
重山吉偉,中村淳良,上田泰広(シャープ) |
平成12年 | 第12回 |
ボ−リング孔壁のステレオ画像計測法 |
小杉亨,亀和田俊一(レアックス),金子俊一(北大) |
平成13年 | 第13回 |
欠陥点サンプリング技術を利用した外観検査手法 |
高木裕治,渋谷久恵,細谷直樹(日立製作所) |
平成14年 | 第14回 |
量子化定理の提案−画像グレースケール離散化の数理的考察− |
輿水大和(中京大),本田和広,中村奈津子(日本電子) |
平成15年 | ViEW2003 |
白色干渉法による透明膜の三次元形状計測 |
北川克一(東レエンジニアリング) |
平成16年 | ViEW2004 |
測長SEMにおけるビームチルト角キャリブレーション技術の開発 |
宮本敦,田中麻紀(日立製作所)諸熊秀俊,瀬戸口勝美(日立ハイテクノロジーズ) |
平成17年 | ViEW2005 |
『蛍狩り計測法』−レンズの球面収差とハフ変換を利用した同時多点単眼3D位置計測− |
瀬古保次,佐口泰之,山口義紀,堀田弘之,村井和昌,宮崎淳(富士ゼロックス),輿水大和(中京大) |
平成18年 | ViEW2006 |
全方向ステレオシステム(SOS)を搭載したインテリジェント電動車いすの開発 |
佐藤 雄隆,坂上 勝彦(産総研) |
平成19年 | ViEW2007 |
フーリエ変換法を用いたコンパクトな立体形状計測装置 |
楠文経(デベロ),森脇耕介,福田宏輝,岩田耕一(大阪府立産技研),冨井隆春(デベロ) |
平成20年 | ViEW2008 |
画像処理を高速化する技術の開発と胴割選別機への応用 |
石津任章,佐野誠(広島県立総技研),木下茂樹,原正純,伊藤隆文(サタケ) |
平成21年 | ViEW2009 |
高速撮影による外来光除去技術 |
西内秀和,中村光範,三ツ石広喜,佐藤宏,クライソントロンナムチャイ(日産自動車) |
平成22年 | ViEW2010 |
高解像度レーザレーダを用いた走行環境における移動物の追跡と識別 |
宮阪健夫,城殿清澄,内藤貴志(豊田中研) |
平成23年 | ViEW2011 |
姿勢変動に伴う身体特徴変化の統計的モデリングによる遮蔽に頑健な人物追跡 |
橋本潔,加賀屋智之,片岡裕雄(慶大),藤田光子,田靡雅基,野上健士(パナソニック),青木義満(慶大) |
平成24年 | ViEW2012 |
周辺視と固視微動に学ぶ「傷の気付き」アルゴリズム |
青木公也,舟橋琢磨,輿水大和(中京大),三和田靖彦(トヨタ自動車) |