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ViEW (Vision Engineering Workshop) は、1989年にスタートした前身の外観検査の自動化ワークショップから数えてこれま
で四半世紀に亘り、日本における画像処理技術の発展、特に産業応用に貢献してきました。当初中心的に行われていた電子
産業や半導体産業などにおける検査技術をはじめとした産業応用に関わる画像処理技術の研究開発を根幹に据えながら、
ViEWは時代の変遷・要請に呼応してその対象分野を貪欲に広げ、現在では極めて幅広い分野をカバーするに至っています。
ViEWは、一般講演の多様な発表形式が大きな特徴となっています。オーラル講演、インタラクティブ講演、ハイブリッドオーラル
講演を準備し、さらに基調講演やオーガナイズドセッションとの組み合わせにより、参加者にとって可能な限り最適な形式で発表
できる場を提供しています。オーラル講演とハイブリッドオーラル講演を組み合わせたハイブリッドセッションはViEWにおける独
特の形式と言えます。シングルトラックのセッション構成により、参加者全員が全ての講演を聴講・議論し、最新の情報を共有で
きるのも特徴です。また、優秀な研究発表に対して「画像応用技術専門委員会 小田原賞」を授与しています。約100件の講演
に対し、500名近くの皆様にご参加頂いております。
今年も、産・官・学のすべての研究者、技術者ばかりでなく画像処理とその応用技術に関心をお持ちの皆様の参加を心から
お待ち申し上げております。
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ViEW2014実行委員長 梅田和昇(中央大)
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