|
|
|
|
|
|
| 第1回 |
平成7年
第７回 |
赤外画像と可視画像を用いた非接触皮膚温計測装置の開発 |
西条淳夫、吉田博明、鈴木龍司、大隅正人、塚本一義 |
三洋電機（株）メカトロニクス研究所 |
| 第2回 |
平成8年
第8回 |
溶接ビ－ド表面外観検査 |
久保克己、相川徹郎、浅井 知、金子忠昭 |
（株）東芝 |
| 第3回 |
平成9年
第9回 |
動画像追跡処理法を用いた塗装外観検査装置の開発 |
吉田 清、今西正則、鈴木 裕、渡辺正実 |
日産自動車（株） |
| 第4回 |
平成10年
第10回 |
点群の群化要因に基づくＧＡを用いたＬＣＤ輝度むら検出 |
斉藤文彦 |
岩手県立大学 |
| 第5回 |
平成11年
第11回 |
ＯＰＣドラム外観検査装置 |
重山吉偉、中村淳良、上田泰広 |
シャ－プ（株） |
| 第6回 |
平成12年
第12回 |
ボ－リング孔壁のステレオ画像計測法 |
小杉 亨*、亀和田俊一*、金子俊一** |
*：（株）レアックス
**：北海道大学 |
| 第7回 |
平成13年
第13回 |
欠陥点サンプリング技術を利用した外観検査手法 |
高木裕治、渋谷久恵、細谷直樹 |
(株)日立製作所
生産技術研究所 |
| 第8回 |
平成14年
第14回 |
量子化定理の提案 －画像グレースケール離散化の数理的考察－ |
輿水大和*、本田和広**、中村奈津子** |
*：中京大
**：日本電子（株） |
| 第9回 |
平成15年
ViEW2003 |
白色干渉法による透明膜の三次元形状計測 |
北川克一 |
東レエンジニアリング(株) |
| 第10回 |
平成16年
ViEW2004 |
測長ＳＥＭにおけるビームチルト角キャリ ブレーション技術の開発 |
宮本敦*、田中麻紀*、諸熊秀俊**、瀬戸口勝美** |
*：(株)日立製作所、**：(株)日立ハイテクノロジーズ |
| 第11回 |
平成17年
ViEW2005 |
『蛍狩り計測法』 －レンズの球面収差とハフ変換を利用した同時多点単眼３Ｄ位置計測－ |
瀬古保次*、佐口泰之*、山口義紀*、堀田弘之*、村井和昌*、宮崎淳*、輿水大和** |
*：富士ゼロックス(株)、**：中京大学 |
| 第12回 |
平成18年
ViEW2006 |
全方向ステレオシステム(SOS)を搭載したインテリジェント電動車いすの開発 |
佐藤雄隆、坂上勝彦 |
(独)産業技術総合研究所 |
| 第13回 |
平成19年
ViEW2007 |
フーリエ変換法を用いたコンパクトな立体形状計測装置 |
楠文経*、森脇耕介**、福田宏輝**、岩田耕一**、冨井隆春* |
*：(株)デベロ、**：大阪府立産技研 |
| 第14回 |
平成20年
ViEW2008 |
画像処理を高速化する技術の開発と胴割選別機への応用 |
石津任章*、佐野誠*、木下茂樹**、原正純**、伊藤隆文** |
*：広島県立総合技術研究所、**：(株)サタケ |
| 第15回 |
平成21年
ViEW2009 |
高速撮像による外来光除去技術 |
西内秀和、中村光範、三ツ石広喜、佐藤宏、クライソントロンナムチャイ |
日産自動車 |
| 第16回 |
平成22年
ViEW2010 |
高解像度レーザレーダを用いた走行環境における移動物の追跡と識別 |
宮阪健夫、城殿清澄、内藤貴志 |
豊田中研 |
| 第17回 |
平成23年
ViEW2011 |
姿勢変動に伴う身体特徴変化の統計的モデリングによる遮蔽に頑健な人物追跡 |
橋本潔*、加賀屋智之*、片岡裕雄*、藤田光子**、田靡雅基**、野上健士**、青木義満* |
*：慶応義塾大学、**：パナソニック(株) |
| 第18回 |
平成24年
ViEW2012 |
高解像度レーザレーダを用いた走行環境における移動物の追跡と識別 |
青木公也*，舟橋琢磨*，輿水大和*、三和田靖彦** |
*：中京大学、**：トヨタ自動車(株) |
| 第19回 |
平成25年
ViEW2013 |
RGB-Dカメラから得られるDepthデータの歪み補正 |
佐藤雄隆*、岩田健司*、永見武司*、竹内啓五** |
*：(独)産業技術総合研究所、**：清水建設(株) |
| 第20回 |
平成26年
ViEW2014 |
内視鏡型センシングと気付きアルゴリズムによる自動車部品検査方式 |
長嶋千恵*、青木公也**、塚田敏彦*、三和田靖彦***、輿水大和** |
*：(株)豊田中央研究所、**：中京大学、***：トヨタ自動車(株) |
