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ViEW (Vision Engineering Workshop) は、1989年に外観検査の自動化ワークショップとしてスタートし、四半世紀に亘り日本における画像処理技術の発展に貢献してきました。
2003年よりビジョン技術の実利用ワークショップと名称を変え、外観検査技術にとどまらず、その対象分野を貪欲に広げ、現在では極めて幅広い分野をカバーしています。
時代の要請に従い変化しつつ、一貫して産業応用への貢献を第一義としています。
ViEWは、多様な発表形式が大きな特徴となっています。オーラル講演、インタラクティブ講演、ハイブリッドオーラル講演を準備し、一般講演者にとって可能な限り最適な
形式で発表できる場を提供しています。優秀な研究発表には「画像応用技術専門委員会 小田原賞」を、優秀な若手研究発表者には「画像応用技術専門委員会 ViEW若手奨励賞」
をそれぞれ授与しています。また、基調講演とオーラル講演とハイブリッドオーラル講演を組み合わせたハイブリッドセッションは、ViEW独特のものです。
さらに、インタラクティブセッション、特別講演とスペシャルセッションを加えてシングルトラックで構成おり、参加者全員が全ての講演を聴講・議論し、最新の情報を
共有することができます。例年、約100件の講演に対し、500名程の皆様にご参加頂いております。
今年も、産・官・学の研究者、技術者ばかりでなく、画像処理とその応用技術に関心をお持ちの皆様の参加を心からお待ち申し上げております。
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ViEW2016実行委員長 渋谷久恵(日立製作所)
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