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| 第1回 |
平成7年
第７回 |
赤外画像と可視画像を用いた非接触皮膚温計測装置の開発 |
西条淳夫、吉田博明、鈴木龍司、大隅正人、塚本一義 |
三洋電機（株）メカトロニクス研究所 |
| 第2回 |
平成8年
第8回 |
溶接ビ－ド表面外観検査 |
久保克己、相川徹郎、浅井 知、金子忠昭 |
（株）東芝 |
| 第3回 |
平成9年
第9回 |
動画像追跡処理法を用いた塗装外観検査装置の開発 |
吉田 清、今西正則、鈴木 裕、渡辺正実 |
日産自動車（株） |
| 第4回 |
平成10年
第10回 |
点群の群化要因に基づくＧＡを用いたＬＣＤ輝度むら検出 |
斉藤文彦 |
岩手県立大学 |
| 第5回 |
平成11年
第11回 |
ＯＰＣドラム外観検査装置 |
重山吉偉、中村淳良、上田泰広 |
シャ－プ（株） |
| 第6回 |
平成12年
第12回 |
ボ－リング孔壁のステレオ画像計測法 |
小杉 亨*、亀和田俊一*、金子俊一** |
*：（株）レアックス
**：北海道大学 |
| 第7回 |
平成13年
第13回 |
欠陥点サンプリング技術を利用した外観検査手法 |
高木裕治、渋谷久恵、細谷直樹 |
(株)日立製作所
生産技術研究所 |
| 第8回 |
平成14年
第14回 |
量子化定理の提案 －画像グレースケール離散化の数理的考察－ |
輿水大和*、本田和広**、中村奈津子** |
*：中京大
**：日本電子（株） |
| 第9回 |
平成15年
ViEW2003 |
白色干渉法による透明膜の三次元形状計測 |
北川克一 |
東レエンジニアリング(株) |
| 第10回 |
平成16年
ViEW2004 |
測長ＳＥＭにおけるビームチルト角キャリ ブレーション技術の開発 |
宮本敦*、田中麻紀*、諸熊秀俊**、瀬戸口勝美** |
*：(株)日立製作所、**：(株)日立ハイテクノロジーズ |
| 第11回 |
平成17年
ViEW2005 |
『蛍狩り計測法』 －レンズの球面収差とハフ変換を利用した同時多点単眼３Ｄ位置計測－ |
瀬古保次*、佐口泰之*、山口義紀*、堀田弘之*、村井和昌*、宮崎淳*、輿水大和** |
*：富士ゼロックス(株)、**：中京大学 |
| 第12回 |
平成18年
ViEW2006 |
全方向ステレオシステム(SOS)を搭載したインテリジェント電動車いすの開発 |
佐藤雄隆、坂上勝彦 |
(独)産業技術総合研究所 |
| 第13回 |
平成19年
ViEW2007 |
フーリエ変換法を用いたコンパクトな立体形状計測装置 |
楠文経*、森脇耕介**、福田宏輝**、岩田耕一**、冨井隆春* |
*：(株)デベロ、**：大阪府立産技研 |
| 第14回 |
平成20年
ViEW2008 |
画像処理を高速化する技術の開発と胴割選別機への応用 |
石津任章*、佐野誠*、木下茂樹**、原正純**、伊藤隆文** |
*：広島県立総合技術研究所、**：(株)サタケ |
