ビジョン技術の実利用ワークショップ
精密工学会 画像応用技術専門委員会
2006年12月7日(木)、8日(金)
パシフィコ横浜 アネックス・ホール（横浜市西区みなとみらい1-1-1）
 趣旨・TOPICS開催日・会場同時開催主催・共同企画・協賛運営委員沿革ViEW2005 |
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精密工学会 画像応用技術専門委員会 小田原賞
ビジョン技術の実利用ワークショップでは、本活動の創始グループの一人である、故小田原豪太郎先生（東大）の功績を称えて、最優秀論文に対して「画像応用技術専門委員会 小田原賞」を授与しております。これは参加者による一般投票及び共同企画代表者による厳正な審議に基づいて行われます。これまで下記に列記する方々が受賞されています。
受賞者リスト
|
回 |
WS |
受賞論文 |
受賞者（敬称略） |
所属（当時） |
| 第1回 | 平成７年 第７回 |
赤外画像と可視画像を用いた非接触皮膚温計測装置の開発 | 西条淳夫、吉田博明、鈴木龍司、大隅正人、塚本一義 | 三洋電機（株）メカトロニクス研究所 |
| 第2回 | 平成8年 第8回 |
溶接ビ−ド表面外観検査 | 久保克己、相川徹郎、浅井 知、金子忠昭 | （株）東芝 |
| 第3回 | 平成9年 第9回 |
動画像追跡処理法を用いた塗装外観検査装置の開発 | 吉田 清、今西正則、鈴木 裕、渡辺正実 | 日産自動車（株） |
| 第4回 | 平成10年 第10回 |
点群の群化要因に基づくＧＡを用いたＬＣＤ輝度むら検出 | 斉藤文彦 | 岩手県立大学 |
| 第5回 | 平成11年 第11回 |
ＯＰＣドラム外観検査装置 | 重山吉偉、中村淳良、上田泰広 | シャ−プ（株） |
| 第6回 | 平成12年 第12回 |
ボ−リング孔壁のステレオ画像計測法 | 小杉 亨*、亀和田俊一*、金子俊一** | *：（株）レアックス **：北海道大学 |
| 第7回 | 平成13年 第13回 |
欠陥点サンプリング技術を利用した外観検査手法 | 高木裕治、渋谷久恵、細谷直樹 | (株)日立製作所 生産技術研究所 |
| 第8回 | 平成14年 第14回 |
量子化定理の提案 −画像グレースケール離散化の数理的考察− | 輿水大和*、本田和広**、中村奈津子** | *：中京大 **：日本電子（株） |
| 第9回 | 平成15年 ViEW2003 |
白色干渉法による透明膜の三次元形状計測 | 北川克一 | 東レエンジニアリング(株) |
| 第10回 | 平成16年 ViEW2004 |
測長ＳＥＭにおけるビームチルト角キャリ ブレーション技術の開発 | 宮本敦 | 日立製作所 |
| 第11回 | 平成17年 ViEW2005 |
『蛍狩り計測法』 −レンズの球面収差とハフ変換を利用した同時多点単眼３Ｄ位置計測− | 瀬古保次、佐口泰之、山口義紀、堀田弘之、村井和昌、宮崎淳、輿水大和 | （富士ゼロックス株式会社、中京大学） |