12月4日(金) 17:10 ~ 18:10
「分光反射率センシングと蛍光解析」
講演者: 佐藤 洋一 氏 (東京大学生産技術研究所教授)
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概要:対象物体の任意光源下における正しい色再現や材質などの状態解析には、物体の分光反射率、さらに蛍光を含む物体の場合には、蛍光の分光特性を知ることが重要となります。しかしながら、分光反射率画像や蛍光分光特性の計測には長時間を要するという問題があり、分光反射率画像や蛍光分光特性の応用は限られてきました。本講演では、高速な分光反射率画像の計測手法およびに、少数の観測からの蛍光分光特性推定手法、さらに、蛍光情報にもとづく形状復元などの応用について紹介します。
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