日程：2017年12月7日（木），8日（金）
会場：パシフィコ横浜アネックスホール（〒220-0012 横浜市西区みなとみらい1-1-1）
| 特別講演１ | 特別講演２ | |
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輿水 大和 氏 （中京大学教授・人工知能高等研究所長） |
榊原 彰 氏 （日本マイクロソフト㈱執行役員・CTO） |
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「画像技術の学術的覚悟 －もっと深く、広く、もっと先に－」 
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| 基調講演１ | 基調講演２ | 基調講演３ | 基調講演４ | ||||
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| 野中 一洋 氏 （産業技術総合研究所） |
岡谷 貴之 氏 （東北大学） |
佐藤 真一 氏 （国立情報学研究所） |
山下 紘正 氏 （カイロス㈱） |
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| 「IoT時代に向けた 外観検査と標準化」 |
「質感の画像認識に ついて」 |
「画像・映像解析ベンチマークとその功罪」 | 「8K超高解像度映像技術の医療応用」 | ||||
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| 基調講演 | 講演１ | 講演２ | ||
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| 野辺 継男 氏 （インテル㈱，名古屋大学） |
上田 哲郎 氏 （日産自動車㈱） |
高橋 巧一 氏 （日本電気㈱） |
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| 「未来のクルマ(完全自動運転車)が 提供する未来の移動と画像認識」 |
「未来の車はなぜ 空っぽなのか」 |
「近年の顔認証関連技 術の動向と取り組み」 |
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| 基調講演 | 講演１ | 講演２ | |||||
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| 長谷川 寛 氏 | 寺田 浩敏 氏 | 柴田 剛志 氏 | 布施 則一 氏 | ||||
| （浜松ホトニクス㈱） |
（日本電気㈱） |
（電力中央研究所） |
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「イメージインテンシファイアを用いた 深紫外光イメージング」 「近赤外光センシング技術 ～ 半導体故障解析装置への応用」 |
「遠赤外光を活用したマルチモーダル画像センシング技術とその応用」 |
「テラヘルツ波による電力機器・設備の非破壊検査技術の開発」 |
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CFPはこちらからダウンロードできます。
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講演申込期限 |
2017年9月15日(金) |
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採択通知 |
2017年10月10日(火) |
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カメラレディ提出期限 |
2017年10月27日(金) |
 2017.12.8ViEW2017が終わりました。 |
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2017.12.4 Web事前申込を終了しました。 |
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2017.10.16 プログラムの公開を開始しました。 |
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2017.7.24 講演申込・参加申込を開始しました。 |
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2017.3.9 特別講演について更新しました。 |
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2017.3.9 スケジュールを公開しました。 |
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2017.3.9 CFPを公開しました。 |
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2017.3.9 ViEW2017ホームページを公開しました． |
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